xulm菲希爾鍍層測厚儀檢測電鍍金屬鍍層厚度，對鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銠、鍍鈀、鍍銀等鍍層厚度可以達到分析，一次性可以分析5層，由于可測量的元素范圍從鋁至鈾，xulm菲希爾鍍層測厚儀的應用范圍從工業(yè)應用伸展到科學應用。xulm菲希爾鍍層測厚儀可應用于治金學、地質學、鑒證學或自然科學等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。

　　xulm菲希爾鍍層測厚儀采用X射線熒光的工作原理是，X射線管產生初級射線照射在受檢物質時，會激發(fā)物質放射X－射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號，接收器便會記錄這些能量光譜。不需要先對樣品進行處理便能測量，樣品可直接放入測量室進行測量。

　　隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。xulm菲希爾鍍層測厚儀采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。

　　介紹完xulm菲希爾鍍層測厚儀的測量方法后，再來看看影響xulm菲希爾鍍層測厚儀測量的因素是什么呢?

　　1.基體金屬厚度

　　每一種xulm菲希爾鍍層測厚儀都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　2.基體金屬磁性質

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對xulm菲希爾鍍層測厚儀進行校準；xulm菲希爾鍍層測厚儀亦可用待涂覆試件進行校準。

　　3.基體金屬電性質

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對xulm菲希爾鍍層測厚儀進行校準。

　　4.邊緣效應

　　xulm菲希爾鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

　　5.曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　所以，xulm菲希爾鍍層測厚儀的影響因素主要有基體金屬厚度，基體金屬磁性質，基體金屬電性質，邊緣效應和曲率這五個因素。